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铝酸锂(LiAlO2)晶体基片

技术资料

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产品名称

铝酸锂(LiAlO2)晶体基片

技术参数

晶体结构:四方晶系

晶格常数:  a=5.17 Å  c=6.26 Å 

密度:2.62 g/cm3

熔点:1900 °C

硬度:7.5 Mohs

与GaN失配率(001) 1.4%

生长方法:提拉法生长

产品规格

常规晶向:<100>  <001>

晶向公差:±0.5°

常规尺寸:dia2"x0.5mm, 10x10x0.5mm, 10x5x0.5mm,5x5x0.5mm

抛光情况:单抛 双抛

表面粗糙度:<5A

注:尺寸及方向可按照客户要求定做。

晶体缺陷

人工生长单晶有可能存在晶体内部缺陷。

标准包装

1000级超净室,100级超净袋或单片盒封装