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Ce:Lu2SiO5晶体
Ce:Lu2SiO5晶体闪烁晶体的X或Y水平射线有着较高的发光效率，由于它的能度和强度这些晶体被广泛用于安全检查和检测设备中，比如机场，火车站，自定义端口以及石油勘探领域。
技术资料
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| 产品名称 | Ce:Lu2SiO5晶体基片 |
| 技术参数 | 晶体结构：单斜晶系 晶格常数：a=14.254b=10.241 c=6.641 γ=122.0 纯度：>99.99％ 密度：7.4g/cm3 硬度：5.8( mohs) 熔点：2047℃ 热膨胀：19.5 10-6/K 折射率：1.82 发射波长：418nm 生长方法：布里奇曼 |
| 产品规格 | 常规晶向：（001） 掺Ce摩尔比0.175% 常规尺寸：10x10x0.5mm, 10x5x0.5mm 抛光情况：单抛、双抛 抛光面粗糙度：Ra<15A |
| 晶体缺陷 | 人工生长单晶都可能存在晶体内部缺陷。 |
| 标准包装 | 1000级超净室，100级超净袋或单片盒封 |
